O teste do chip de circuito integrado é utilizado em vários chips, semicondutores e testes de componentes. Quando o chip falha, o trabalho de teste pára. Por conseguinte, o utilizador ineficaz do ensaio de chips de circuitos integrados tem de saber claramente.

O objetivo da análise de avarias de circuitos integrados é confirmar o fenómeno de avaria dos componentes electrónicos através de várias técnicas de análise de ensaios e procedimentos de análise, distinguir o modo de avaria e o mecanismo de avaria, confirmar a causa da avaria e propor sugestões para melhorar a conceção e o processo de fabrico, a fim de evitar a ocorrência de avarias repetidas e melhorar a fiabilidade dos componentes. A análise de falhas é uma parte importante da engenharia de fiabilidade dos produtos. Os produtos electrónicos gerais na fase de desenvolvimento de chips de circuitos integrados, a análise de falhas pode corrigir erros nas fases de conceção e desenvolvimento, encurtar o ciclo de desenvolvimento, a análise de falhas pode identificar a causa da falha do componente e a parte responsável pela falha do componente durante a produção, teste e utilização do produto. De acordo com os resultados da análise de falhas, é importante melhorar a conceção e melhorar os produtos para melhorar o rendimento e a fiabilidade do produto acabado.

O processo de diagnóstico da causa da falha dos chips de circuitos integrados é designado por análise de falhas. No entanto, no processo de análise de falhas, muitas vezes precisamos de usar instrumentação e métodos químicos para análise. Os principais conteúdos da análise de falhas incluem: análise clara dos objectos e confirmação da falha. Modo, determinar a causa da falha, estudar o mecanismo de falha e propor medidas de melhoria.

Atualmente, a ciência e a tecnologia estão a desenvolver-se rapidamente, os chips de circuitos integrados estão a tornar-se cada vez mais miniaturizados, complicados, sistemáticos, outras funções estão a tornar-se cada vez mais fortes, a integração está a tornar-se cada vez mais elevada e o volume está a tornar-se cada vez mais pequeno, pelo que os requisitos para a análise de componentes avariados estão a chegar. Quanto maior for a falha, maior será a nova tecnologia, o novo método e o novo equipamento de análise. No processo real de análise de falhas, as condições de falha encontradas são diferentes. De acordo com o objetivo e a atualidade da análise de avarias, escolha a opção correta. As técnicas e métodos de análise devem ser exactos, as razões devem ser claras, o mecanismo deve ser claro, as medidas devem ser eficazes e a simulação deve ser reproduzida.

O funcionamento da operação de teste do chip de circuito integrado sugere que o trabalho de falha do chip é melhor, e evitar alguma força maior faz com que o teste do chip de circuito integrado não seja razoável.

(Rede de fontes de conteúdo, se houver alguma infração, contactar para eliminar).